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高度計的結構原理

更新時(shí)間:2018-12-12點(diǎn)擊次數:6215
 高度計是用來(lái)測量物體水平高度,即海拔的工具。高度的測量被稱(chēng)為測高,與測深,即測量水下深度類(lèi)似。有測量精度高、性能穩定、重復性好等特點(diǎn)。高度計可廣泛適用于產(chǎn)品計量、多點(diǎn)檢測、測量設備監測和位置測量等眾多領(lǐng)域,對長(cháng)度、間距、厚度、高度或直線(xiàn)位移進(jìn)行準確的測量。
結構原理/高度計 
儀器包括高精度光柵裝置、密珠導軌的測量桿裝置、高性能的高速采樣等。 多型號高度計高度計采用精度光柵作為測量基準,選用玻璃基體的增量式光柵尺,所以測量支持大測量范圍,對震動(dòng)和沖擊不敏感,并具有確定的溫度特性。
增量光柵尺的掃描方法為光電掃描,因此無(wú)機械接觸也無(wú)磨損。電子設備對輸出信號進(jìn)行細分至納米級的極小測量步距,從而確保一個(gè)信號周期內微小位置誤差。
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